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粉末式X射線繞射儀

 

簡介:

X'Pert³ Powder PANalytical 最新基於全面更新的X'Pert平台開發的X射線繞射系統。伴隨著最新電控系統,符合最新和最嚴格的X射線安全規範。

該系統為高光子通量,高解析度的物相鑑定和定量分析、殘餘應力分析、低掠角繞射、X射線反射、小角度X射線散射、對分佈函數分析和非常溫常壓環境繞射,均提供了有效的解決方案。

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